这些DIOS模块利用可编程电压与低压IC技术匹配，通过并行驱动和感应测试增强了测试范围。通过JEDEC兼容连接器与JTAG Technologies的边界扫描测试系统连接，该产品实现了驱动和感应功能，其机械形状和引脚分布符合JEDEC 21C标准，便于与JTAG Technologies的JT2702/PCI-Slot等测试装置相集成，也可直接安装到目标PCB上，以便尽可能接近测试点区域。

设计人员可将多达10个DIOS模块串接起来，每个模块均能提供多达128个可通过边界扫描控制的并行通道，且每个通道均能独立设置为输入、输出、双向或三态信号。这些I/O通道能以16个为一组，以100mV为步阶，设定为1.5V到3.6V的电压输出，而其输入范围则在0V到4.0V之间。通道组可进一步设定为1、2、4、8或16个节点，以降低长度，增加测试量。该公司可提供适用于100、168、184、200、240、278、300、144(小尺寸)、200so和214so等插座形式的DIMM模块。通过配置DIOS模块上的逻辑，利用板载的10MHz振荡器，测试设计人员能够实现更多的附加功能，使边界扫描能够完全支持更广泛的测试应用领域。

DIOS模块可用于多种测试设备来提升测试范围。此外，其可热插拔的特性还允许测试目标重复连接而无需重启动，从而提高了系统的测试能力。